高低溫試驗箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運輸，使用時的適應(yīng)性試驗。用于產(chǎn)品設(shè)計，改進，鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標(biāo)。
試驗箱高低溫適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗。特別適用于進行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗。該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出測試廠檢驗用。
高低溫試驗箱測試
高低溫試驗箱檢測其產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應(yīng)性;其測試方式主要還是要根據(jù)GB/T10592-2008的試驗標(biāo)準(zhǔn)進行;溫度測試的方法其中包含：測試點的測試程序、位置及數(shù)量、數(shù)據(jù)處理和試驗結(jié)果
1.測試點的測試程序：在試驗箱可調(diào)的范圍內(nèi)，選取高標(biāo)稱溫度和低標(biāo)稱溫度，將試驗箱按先低溫后高溫的程序運行，在試驗空間的中心點的溫度達到測試溫度并且保持恒定2小時，在30分鐘內(nèi)每一分鐘測試所有測試點的溫度1次，共30次;
2.測試點的數(shù)量：測試點的數(shù)量與工作室容積大小的關(guān)系為：a.工作室容積不大于2m3時，溫度測試點為9個;b.工作室容積大于2m3時，溫度測試點為15個，c.當(dāng)工作室容積大于50m3時，溫濕度測試點的數(shù)量可以適當(dāng)增加。
3.測試點的位置：在試驗空間內(nèi)定出上、中、下三個水平測試面，簡稱上層、中層、下層;上層工作室的頂面的距離是工作室高度的十分之一，中層通過工作室?guī)缀沃行模旅嬖诘蛯訕悠芳苌戏?0毫米處;測試點位于三個此時面上，中心測試點位于工作室?guī)缀沃行模溆鄿y試點在工作室壁的距離為各自邊長的十分之一，但對工作室容積不大于1.3米的試驗箱，高距離不小于50毫米.
更新時間：2022-05-27
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